Instrument XRF portatif H500
Tout simplement le meilleur
Ø Votre analyseur de métaux portatif qui va n’importe où
Ø Analyse des éléments non destructifs avec rapports rapides et simples et génération de certificats
Ø Conception industrielle robuste pour presque toutes les conditions météorologiques, environnement de terrain
Ø Identification en temps réel et en alliage précis pour toutes les catégories de métaux, y compris
Ø Industries d’application larges
Contexte et introduction
L’analyseur portatif de fluorescence aux rayons X (XRF), parfois appelé pistolet XRF portatif, est utilisé pour analyser la composition chimique des matériaux. L’illumination par rayons X provoque la fluoration de chaque élément à une longueur d’onde caractéristique. En analysant le modèle et l’intensité des longueurs d’onde émises, les analyseurs XRF peuvent déterminer l’identité et la quantité d’éléments et de produits chimiques présents dans un échantillon. Les analyseurs XRF portatifs sont légers, nécessitant un tube à rayons X miniature et des détecteurs, mais permettant une utilisation sur place. Bien que cette technologie à petite échelle limite la sensibilité et la flexibilité, le matériel et les logiciels d’analyseur XRF portatifs peuvent être optimisés pour détecter des éléments spécifiques et compenser ces limitations. Avec un analyseur XRF portatif, les échantillons à n’importe quel endroit peuvent être testés en quelques secondes et sans aucun dommage. Les analyseurs XRF portatifs sont utilisés par les industries extractives, de transformation et de fabrication, ainsi que par les agences de sécurité. Les applications comprennent l’essai du plomb dans la peinture, le tri de la ferraille, l’évaluation des échantillons miniers, l’inspection des marchandises importées, la restauration de l’art et l’analyse de la qualité du sol et de l’eau.
fonctionnalités:
Analyse non destructive
Sensibilité maximale
Communication facile
Analyse rapide
Haute précision et précision
Spécifications techniques
Méthode analytique |
Fluorescence des rayons X dispersive d’énergie |
PDA avec écran tactile |
Processeur: 1G, Mémoire système: 1G, standard 4G données de stockage de masse, support maximum stocké étendu jusqu’à 32G, Grand écran tactile LCD, résolution 1820x720 |
Analyse intelligente |
Mode de test de sélection automatique basé sur la matrice de l’échantillon |
Source d’excitation |
50KV/200μA – Fenêtre d’extrémité Ag/Rh intégrée tube à rayons X miniature et alimentation à haute tension |
Collimateur & Filtre |
Collimateur et filtres multiples avec fonctions de commutation automatiques |
Détecteur |
Détecteur de dérive de silicium (DDD) |
Résolution du détecteur |
Jusqu’à 125eV |
États échantillonnés |
Solides, liquides, poudres |
Gamme élémentaire |
Nombres atomiques entre 12 (Mg) et 92 (U) |
Limite de détection |
1 – 500ppm, selon l’élément et la matrice d’échantillon |
Temps d’analyse |
3-60 secondes |
Analyse simultanée |
Affiche jusqu’à 40 éléments à la fois |
Plage d’affichage |
ppm - 99,99% |
Système de vue d’échantillon |
Caméra intégrée haute résolution |
Connectivité |
USB, GPS, Wi-Fi ou Bluetooth |
Sécurité |
Arrêt automatique du tube à rayons X, cadre d’instrument doublé de Pb, niveaux de rayonnement dans les normes internationales de sécurité |
Alimentation |
La batterie Li rechargeable, standard 9000mAh, fournit jusqu’à 12 heures de fonctionnement sur une seule charge; Adaptateur universel 110/220V pour la charge |
Température |
-20ºC à +50ºC |
Humidité |
≤90% |
Poids |
1,75 kg |
Applications typiques:
Exploitation minière et minéraux
Métaux
Petrochemicals
Aliments
Matériaux de construction
Milieu universitaire
Pharmaceuticals
Environnement
Plastiques et polymères
Performance d’essai des échantillons minéraux d’étain
Modèle d’instrument : Analyseur XRF portatif H-500 |
Échantillon: |
||||
Temps d’essai: |
30 secondes |
Unité: % |
|||
Non. de Reading |
Courbe d’étalonnage |
Sn |
Cu |
Fe |
Mo Mo |
1 |
Minérale |
49.3554 |
5.7654 |
56.0551 |
5.4208 |
2 |
Minérale |
50.6876 |
5.6713 |
55.9913 |
5.5935 |
3 |
Minérale |
50.3881 |
5.7493 |
56.0739 |
5.3518 |
4 |
Minérale |
49.8010 |
5.7727 |
56.1811 |
5.4086 |
5 |
Minérale |
49.8032 |
5.6791 |
55.8322 |
5.3257 |
6 |
Minérale |
49.9043 |
5.7250 |
56.0807 |
5.4958 |
7 |
Minérale |
50.5025 |
5.6975 |
55.7652 |
5.4550 |
8 |
Minérale |
48.4144 |
5.7198 |
55.7945 |
5.4728 |
9 |
Minérale |
50.4025 |
5.7634 |
56.0962 |
5.4033 |
10 |
Minérale |
49.5978 |
5.7385 |
56.3685 |
5.4228 |
Moyenne |
49.886 |
5.728 |
56.024 |
5.435 |
|
Déviation type Sn |
0.6738 |
0.0362 |
0.1864 |
0.0757 |
|
Rsd |
1.351% |
0.633% |
0.333% |
1.393% |
Performance d’essai de l’acier inoxydable-316
Modèle d’instrument : Analyseur XRF portatif H-500 |
Échantillon: |
Acier inoxydable 316 |
|||||
Temps d’essai: |
30 secondes |
||||||
Non. de Reading |
Courbe d’étalonnage |
Cr % |
Mn % |
Fe % |
Ni % |
Cu % |
Mo % |
1 |
Acier en alliage élevé |
16.648 |
0.878 |
69.346 |
10.121 |
0.309 |
1.987 |
2 |
Acier en alliage élevé |
16.688 |
0.849 |
69.356 |
10.100 |
0.325 |
1.983 |
3 |
Acier en alliage élevé |
16.642 |
0.872 |
69.435 |
10.061 |
0.315 |
1.991 |
4 |
Acier en alliage élevé |
16.679 |
0.918 |
69.276 |
10.102 |
0.311 |
1.975 |
5 |
Acier en alliage élevé |
16.611 |
0.899 |
69.266 |
10.196 |
0.305 |
1.984 |
6 |
Acier en alliage élevé |
16.652 |
0.888 |
69.422 |
10.021 |
0.304 |
1.996 |
7 |
Acier en alliage élevé |
16.722 |
0.865 |
69.305 |
10.098 |
0.318 |
1.975 |
8 |
Acier en alliage élevé |
16.702 |
0.836 |
69.438 |
10.037 |
0.313 |
1.988 |
9 |
Acier en alliage élevé |
16.629 |
0.876 |
69.382 |
10.076 |
0.312 |
1.963 |
10 |
Acier en alliage élevé |
16.642 |
0.864 |
69.388 |
10.117 |
0.302 |
1.974 |
Gammes |
0.111 |
0.082 |
0.172 |
0.175 |
0.023 |
0.032 |
|
Moyenne |
16.662 |
0.874 |
69.361 |
10.093 |
0.311 |
1.982 |
|
Déviation type Sn |
0.0349 |
0.0236 |
0.0633 |
0.0492 |
0.0071 |
0.0096 |
|
Rsd |
0.209% |
2.694% |
0.091% |
0.488% |
2.276% |
0.486% |
Qu’est-ce que XRF?
Le principe de base du spectromètre de fluorescence des rayons X (XRF) est l’interaction des photons à rayons X à partir d’une source d’excitation distincte avec les atomes des éléments d’intérêt trouvés dans l’échantillon. Lorsque ces photons d’excitation rayonnaient avec les atomes de l’échantillon, les photons provoquent l’éjection d’électrons en orbite interne. Les électrons de l’orbite externe tombent alors automatiquement dans ces postes vacants. Ces transitions entraînent l’émission de rayons X caractéristiques liées à l’élément. L’énergie de la radiographie caractéristique est égale aux différences énergétiques des deux coquilles d’électrons impliquées dans la transition. Parce que les énergies de liaison électronique sont une fonction du nombre atomique, l’énergie de la radiographie est unique à chaque élément. Le nombre ou l’intensité des rayons X produits à une énergie donnée fournit une mesure de la quantité de l’élément présent par rapport aux normes.
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